X射線熒光分析儀產(chǎn)品資料和技術(shù)參數(shù)介紹，X射線熒光分析儀產(chǎn)品是在天瑞儀器多年XRF檢測技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)基礎(chǔ)之上研發(fā)的一款新型高端X射線熒光光譜測試儀，采用新一代探測器及多道技術(shù)，實(shí)現(xiàn)超高計(jì)數(shù)率，1秒出，準(zhǔn)確分析貴金屬含量。同時(shí)，具備二維移動(dòng)平臺(tái)及高清工業(yè)攝像頭，實(shí)現(xiàn)樣品精確定位

性能特點(diǎn)

快,1秒鐘出

1、采用行業(yè)先進(jìn)的極速探測器技術(shù)——（SDD）分辨率較低至125eV

優(yōu)勢：探測面積大（面積達(dá)25m㎡）、單位時(shí)間內(nèi)接受信息多、計(jì)數(shù)率高分辨率好

對(duì)貴金屬的探測效率更高，探測信噪比更強(qiáng)，檢出限更低

2、采用行業(yè)先進(jìn)的數(shù)字多道技術(shù)

優(yōu)勢：有效提高輸出效率，實(shí)現(xiàn)超高計(jì)數(shù)率，保證采集有效計(jì)數(shù)率超過600KCPS

3、采用大功率X光管及先進(jìn)的準(zhǔn)直濾光系統(tǒng)

優(yōu)勢：使貴金屬的激發(fā)效率更高

4、光閘系統(tǒng)

優(yōu)勢：樣品更換無需關(guān)閉高壓，提高測試效率與測試精度

精密的定位系統(tǒng)

超高清晰工業(yè)攝像頭，更清晰的顯示測試點(diǎn)

多點(diǎn)測試

2D全自動(dòng)移動(dòng)樣品臺(tái)——可實(shí)現(xiàn)圖像聯(lián)動(dòng)控制，多點(diǎn)連續(xù)測試

超小樣品檢測——較小可測到0.2毫米

8種準(zhǔn)直器、4種濾光片快速切換功能，可根據(jù)不同樣品進(jìn)行選擇

準(zhǔn)直器較小可達(dá)0.2毫米，針對(duì)超小樣品可準(zhǔn)確聚焦檢測

可高效區(qū)分99.9及黃金純度

可測量貴金屬中有害元素，鉛、鎘等

人性化的設(shè)計(jì)

更安全：X射線聯(lián)動(dòng)安全裝置----光閘與聯(lián)動(dòng)裝置互動(dòng)；儀器外殼與高壓使能端相聯(lián)動(dòng)

更快捷：多點(diǎn)測試，點(diǎn)哪測哪

預(yù)約預(yù)熱：根據(jù)設(shè)定時(shí)間，儀器可定時(shí)開始測試

預(yù)約開機(jī)預(yù)熱功能：客戶可預(yù)約儀器開機(jī)時(shí)間，同時(shí)可以儀器預(yù)熱并自動(dòng)檢測、校正儀器狀態(tài)；同時(shí)可以實(shí)現(xiàn)預(yù)約關(guān)機(jī)，關(guān)機(jī)前可設(shè)定聲光提示

技術(shù)參數(shù)

測量元素范圍：硫(S)～鈾(U)

檢出限：分析檢出限可達(dá)2ppm，較薄可測試0.005μm

元素含量分析范圍：2ppm～

探測器：SDD探測器，分辨率較低可達(dá)125eV

管流：≤1000uA

管壓：5～50kV

測量時(shí)間：1s或以上(可調(diào))

濾光片：4種濾光片自由切換

準(zhǔn)直器：8種準(zhǔn)直器自動(dòng)切換

樣品觀察：高清工業(yè)攝像頭

環(huán)境濕度：≤70

環(huán)境溫度：15℃～30℃

制冷方式：電制冷，無需任何耗材

輸入電壓：交流220V±5V，建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源

儀器配置

SDD探測器

數(shù)字多道分析系統(tǒng)

X射線源

高低壓電源

準(zhǔn)直器濾光片系統(tǒng)

精密移動(dòng)平臺(tái)

光閘系統(tǒng)

樣品觀測系統(tǒng)

電子控制系統(tǒng)

計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)

應(yīng)用領(lǐng)域

ROHS檢測儀

鍍層測厚

合金分析

不銹鋼分析

鹵素檢測

首飾加工廠

金銀珠寶首飾店

貴金屬冶煉廠

質(zhì)量檢驗(yàn)部門

分析測試中心

典當(dāng)行

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