分析范圍0~50微米
分析誤差5%
分析時間30秒
重復(fù)性0.1%
電源電壓220V
EDX2000A能量色散X熒光光譜儀(全自動微區(qū)膜厚測試儀)對平面、凹凸、拐角、弧面等簡單及復(fù)雜形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對焦分析,滿足半導(dǎo)體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求。通過自動化的X軸Y軸Z軸的三維移動,雙激光定位和保護系統(tǒng)。
應(yīng)用領(lǐng)域
電鍍行業(yè)、電子通訊、新能源、五金衛(wèi)浴、電器設(shè)備
汽車制造、磁性材料、貴金屬電鍍、高校及科研院所等
產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域
測量超微小部件和結(jié)構(gòu),如:印制線路板、連接器或引線框架等;
分析超薄鍍層,如:厚度薄至2nm的Au鍍層和≤30nm的Pd鍍層;
測量電子和半導(dǎo)體行業(yè)中的功能性鍍層;
分析復(fù)雜的多鍍層系統(tǒng);
全自動測量,如:用于質(zhì)量控制領(lǐng)域;
符合ENIG/ENEPIG要求,符合DINISO3497,ASTMB568,IPC4552和IPC4556標(biāo)準(zhǔn)。

天瑞全新一代EXPLORER 9000手持式XRF土壤重金屬分析儀吸引了很多人的目光。儀器可對污染土壤中的汞、鎘、鉛、、銅、鋅、鎳、鈷、釩、鉻、錳等重金屬元素進(jìn)行有效檢測,還可根據(jù)客戶需求定制增加檢測元素。并內(nèi)置GPS功能,確定取樣點的地理位置信息,快速普查超大范圍的土壤地質(zhì)污染區(qū),建立污染地圖,實時各區(qū)域的污染情況。還能快速、現(xiàn)場追蹤污染異常,有效尋找“污點”地帶,圈定污染區(qū)域邊界。
在應(yīng)急水污染檢測方面,天瑞的 HM-5000P多功能便攜式重金屬分析儀憑借著便攜、快速、抗干擾性強的特點得到了市場的認(rèn)可,是天瑞的明星產(chǎn)品。同時WAOL3000-HM地表(地下)水質(zhì)重金屬在線分析儀能實時監(jiān)測水樣中多種重金屬含量,其顯著特點包括檢出限低、準(zhǔn)確度高、操作方便,維護成本低等,可廣泛應(yīng)用于地表水、自來水、地下水、河流湖泊以及海水、工業(yè)生產(chǎn)廢水等領(lǐng)域。
EHM-X200大氣重金屬在線分析儀創(chuàng)新地將X熒光(XRF)無損檢測技術(shù)、β射線吸收檢測技術(shù)與空氣顆粒物自動富集技術(shù)結(jié)合。不僅可以檢測大氣PM2.5,還可以同時檢測空氣顆粒物中重金屬的成分和濃度,讓檢測工作更加方便。在面對工業(yè)煙氣監(jiān)測方面,天瑞儀器研發(fā)的GALAS 6激光在線氣體分析儀采用半導(dǎo)體激光吸收光譜技術(shù)測量氣體吸收強度,儀器不受H2O、CO2及粉塵的影響,測量更準(zhǔn)確,分辨率更高,壽命更長,已廣泛應(yīng)用于各個工業(yè)類型的煙氣監(jiān)測和檢測中。

X熒光測厚儀采用X熒光分析技術(shù),可以測定各種金屬鍍層的厚度,包括單層、雙層、多層及合金鍍層等,它也可以進(jìn)行電鍍液的成分濃度測定。它能檢測出常見金屬鍍層厚度,無需樣品預(yù)處理;分析時間短,僅為數(shù)十秒;即可分析出各金屬鍍層的厚度,分析測量動態(tài)范圍寬,可從0.01M到60M。它是一種能譜分析方法,屬于物理分析方法。當(dāng)鍍層樣品在受到X射線照射時,其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會發(fā)射出各自的特征X射線,探測器探測到這些特征X射線后,將其光轉(zhuǎn)變?yōu)槟M;經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬轉(zhuǎn)換為數(shù)字并送入計算機進(jìn)行處理;計算機的應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息,通過數(shù)據(jù)處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。
我公司集中了國內(nèi)的X熒光分析﹑電子技術(shù)等行業(yè)技術(shù)研究開發(fā)及生產(chǎn)技術(shù)人員,依靠多年的科學(xué)研究,總結(jié)多年的現(xiàn)場應(yīng)用實踐經(jīng)驗,結(jié)合的特色,開發(fā)生產(chǎn)出的X熒光測厚儀具有快速、準(zhǔn)確、簡便、實用等優(yōu)點。
我公司新研制的X熒光測厚儀,廣泛用于用于鍍層厚度的測量、電鍍液厚度的測量。
1. 儀器特點:
Ø 同時分析元素周期表中由鈦(Ti)以上元素的鍍層厚度;
Ø 可以分析單層、雙層、三層等金屬及合金鍍層的厚度;
Ø 無需復(fù)雜的樣品預(yù)處理過程;分析測量動態(tài)范圍寬,可從0.01M到60M ;
Ø 采用的探測器技術(shù)及的處理線路,處理速度快,精度高,穩(wěn)定可靠;
Ø 采用正高壓激發(fā)的微聚焦的X光管,激發(fā)與測試條件采用計算機軟件數(shù)碼控制與顯示;
Ø 采用彩色攝像頭,準(zhǔn)確觀察樣品并可拍照保存樣品圖像;
Ø 采用電動控制樣品平臺,可以進(jìn)行X-Y-Z的,準(zhǔn)確方便;
Ø 采用雙激光對焦系統(tǒng),準(zhǔn)確定位測量位置;
Ø 度高,穩(wěn)定性好,故障率低;
Ø 采用多層屏蔽保護,安全性可靠;
Ø WINDOWS XP 中文應(yīng)用軟件,特的分析方法,完備強大的功能,操作簡單,使用方便, 分析結(jié)果存入標(biāo)準(zhǔn)ACCESS數(shù)據(jù)庫;
2、儀器的技術(shù)特性
2.1 X-Y-Z樣品平臺裝置
X熒光測厚儀的X-Y-Z樣品平臺裝置具有可容納各種形態(tài)被測樣品的樣品室。
樣品種類:各種形狀的鍍層樣品,及電鍍液體樣品。
平臺:X-Y-Z采用電動方式,實用方便。

X熒光光譜儀,是一種物理分析方法,其分析與樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)。對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析,抽真空可以測試從Na到U。
可靠性高:由于測試過程無人為因素干擾,儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。所以,其測量的可靠性更高。
滿足不同需求:測試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件,操作方便、功能強大,軟件可儀器狀態(tài),設(shè)定儀器參數(shù),并就有多種的分析方法,工作曲線制作方法靈活多樣,方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
性價比高:相比化學(xué)分析類儀器,X熒光光譜儀在總體使用成本上有優(yōu)勢的,可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。
簡易:對人員技術(shù)要求較低,操作簡單方便,并且維護簡單方便。
3、天瑞一直致力于分析儀器事業(yè),相信天瑞會為電鍍行業(yè)的客戶提供有競爭力的解決方案和服務(wù)。
天瑞儀器作為一個集儀器研發(fā)、系統(tǒng)設(shè)計、產(chǎn)品生產(chǎn)、服務(wù)提供為一身的綜合性儀器供應(yīng)廠商,一直以來嚴(yán)格遵循“360°服務(wù)”的客戶服務(wù)理念,以提高顧客滿意度為根本目標(biāo),從服務(wù)力量、服務(wù)流程、服務(wù)內(nèi)容等各個方面為客戶提供的服務(wù)。
我公司為客戶提供技術(shù)咨詢、方案設(shè)計、技術(shù)交流、產(chǎn)品制造、系統(tǒng)集成、現(xiàn)場勘察、工程實施、技術(shù)培訓(xùn)、服務(wù)熱線、故障處理、、巡檢等全過程、、全系列的服務(wù)。這些不僅讓客戶體驗到天瑞儀器高質(zhì)量的服務(wù),更為客戶創(chuàng)造了更高的價值。
“快速、準(zhǔn)確、到位”的服務(wù)
短交貨時間
天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光膜厚測量技術(shù),研發(fā)的一款全新上照式X射線熒光分析儀,該款儀器配置嵌入集成式多準(zhǔn)直孔、濾光片自動切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現(xiàn)測試部位的細(xì)節(jié),也能呈現(xiàn)出高清廣角視野;自動化的X/Y/Z軸的三維移動,實現(xiàn)對平面、凹凸、拐角、弧面等形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對焦分析。能地滿足半導(dǎo)體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求。
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