分析范圍0-50微米
分析精度5%
較薄測試0.005微米
儀器架構(gòu)上照式
儀器重量90公斤
分析時間30S
天瑞儀器有限公司生產(chǎn)的能量色散X熒光光譜儀系列在電鍍檢測行業(yè)中, 針對上述五項需求的應(yīng)用:
天瑞儀器一直以來都是以客戶需求為出發(fā)點,解決客戶的后顧之憂。通過此次會議,不僅加強了多方聯(lián)系,獲得面對面交流的機會,同時也提高了用戶的操作水平,解決了用戶在日常操作中遇到的問題,幫助用戶更好的使用儀器。

測厚儀的測試方法主要有:磁性測厚法,放射測厚法,電解測厚法,渦流測厚法,超聲波測厚法。
測量注意事項:
⒈在進(jìn)行測試的時候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
⒉測量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場,如果會將會干擾磁性測厚法。
⒍測量時要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量,因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時要保持壓力的恒定,否則會影響測量的讀數(shù)。
⒏在進(jìn)行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸,因此超聲波測厚儀在進(jìn)行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

鍍層測厚儀是針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
2、性能優(yōu)勢
精密的三維平臺
的樣品觀測系統(tǒng)
的圖像識別
輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,自動切換
雙重保護(hù)措施,實現(xiàn)無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控制方式,一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復(fù)位
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣
關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點
點擊軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示測試結(jié)果
3、技術(shù)指標(biāo)
分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U)
同時檢測元素:多24個元素,多達(dá)五層鍍層
檢出限:可達(dá)2ppm,薄可測試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)重復(fù)性:可達(dá)0.1%
穩(wěn)定性:可達(dá)0.1%
SDD探測器:分辨率低至eV
采用的微孔準(zhǔn)直技術(shù),小孔徑達(dá)0.1mm,小光斑達(dá)0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭
準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復(fù)定位精度 :小于0.1um
操作環(huán)境濕度:≤90%
操作環(huán)境溫度 15℃~30℃

昆山市市場局通過走訪座談、問卷調(diào)查等方式,篩選了多家企業(yè),選取了天瑞儀器作為商業(yè)秘密示范點建設(shè)單位。會上,市場局就我公司成為昆山商業(yè)秘密保護(hù)示范點給予了充分肯定和高度評價,并為構(gòu)建完善的商業(yè)秘密保護(hù)系統(tǒng)提出了寶貴的意見和建議,旨在進(jìn)一步加強對商業(yè)秘密的管理,以促進(jìn)我公司健康、穩(wěn)步、飛躍發(fā)展。
2011年4月25日,天瑞儀器推出SUPER XRF 2400,其超微量元素檢測的特功能將傳統(tǒng)XRF性能提升數(shù)倍。
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