分析范圍0~50微米
分析誤差5%
分析時間30秒
重復性0.1%
電源電壓220V
天瑞儀器股份有限公司集多年X熒光鍍層厚度測量技術(shù)經(jīng)驗,專門研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測厚儀。測量方便快捷,無需液氮,無需樣品前處理。對工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等鍍層的成分厚度以及電鍍液金屬離子濃度進行檢測,幫助企業(yè)準確核算成本及質(zhì)量管控??蓮V泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電器、、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等領(lǐng)域。
天瑞全新一代EXPLORER 9000手持式XRF土壤重金屬分析儀吸引了很多人的目光。儀器可對污染土壤中的汞、鎘、鉛、、銅、鋅、鎳、鈷、釩、鉻、錳等重金屬元素進行有效檢測,還可根據(jù)客戶需求定制增加檢測元素。并內(nèi)置GPS功能,確定取樣點的地理位置信息,快速普查超大范圍的土壤地質(zhì)污染區(qū),建立污染地圖,實時各區(qū)域的污染情況。還能快速、現(xiàn)場追蹤污染異常,有效尋找“污點”地帶,圈定污染區(qū)域邊界。
在應(yīng)急水污染檢測方面,天瑞的 HM-5000P多功能便攜式重金屬分析儀憑借著便攜、快速、抗干擾性強的特點得到了市場的認可,是天瑞的明星產(chǎn)品。同時WAOL3000-HM地表(地下)水質(zhì)重金屬在線分析儀能實時監(jiān)測水樣中多種重金屬含量,其顯著特點包括檢出限低、準確度高、操作方便,維護成本低等,可廣泛應(yīng)用于地表水、自來水、地下水、河流湖泊以及海水、工業(yè)生產(chǎn)廢水等領(lǐng)域。
EHM-X200大氣重金屬在線分析儀創(chuàng)新地將X熒光(XRF)無損檢測技術(shù)、β射線吸收檢測技術(shù)與空氣顆粒物自動富集技術(shù)結(jié)合。不僅可以檢測大氣PM2.5,還可以同時檢測空氣顆粒物中重金屬的成分和濃度,讓檢測工作更加方便。在面對工業(yè)煙氣監(jiān)測方面,天瑞儀器研發(fā)的GALAS 6激光在線氣體分析儀采用半導體激光吸收光譜技術(shù)測量氣體吸收強度,儀器不受H2O、CO2及粉塵的影響,測量更準確,分辨率更高,壽命更長,已廣泛應(yīng)用于各個工業(yè)類型的煙氣監(jiān)測和檢測中。

X熒光測厚儀采用X熒光分析技術(shù),可以測定各種金屬鍍層的厚度,包括單層、雙層、多層及合金鍍層等,它也可以進行電鍍液的成分濃度測定。它能檢測出常見金屬鍍層厚度,無需樣品預處理;分析時間短,僅為數(shù)十秒;即可分析出各金屬鍍層的厚度,分析測量動態(tài)范圍寬,可從0.01M到60M。它是一種能譜分析方法,屬于物理分析方法。當鍍層樣品在受到X射線照射時,其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會發(fā)射出各自的特征X射線,探測器探測到這些特征X射線后,將其光轉(zhuǎn)變?yōu)槟M;經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬轉(zhuǎn)換為數(shù)字并送入計算機進行處理;計算機的應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息,通過數(shù)據(jù)處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。
我公司集中了國內(nèi)的X熒光分析﹑電子技術(shù)等行業(yè)技術(shù)研究開發(fā)及生產(chǎn)技術(shù)人員,依靠多年的科學研究,總結(jié)多年的現(xiàn)場應(yīng)用實踐經(jīng)驗,結(jié)合的特色,開發(fā)生產(chǎn)出的X熒光測厚儀具有快速、準確、簡便、實用等優(yōu)點。
我公司新研制的X熒光測厚儀,廣泛用于用于鍍層厚度的測量、電鍍液厚度的測量。
1. 儀器特點:
Ø 同時分析元素周期表中由鈦(Ti)以上元素的鍍層厚度;
Ø 可以分析單層、雙層、三層等金屬及合金鍍層的厚度;
Ø 無需復雜的樣品預處理過程;分析測量動態(tài)范圍寬,可從0.01M到60M ;
Ø 采用的探測器技術(shù)及的處理線路,處理速度快,精度高,穩(wěn)定可靠;
Ø 采用正高壓激發(fā)的微聚焦的X光管,激發(fā)與測試條件采用計算機軟件數(shù)碼控制與顯示;
Ø 采用彩色攝像頭,準確觀察樣品并可拍照保存樣品圖像;
Ø 采用電動控制樣品平臺,可以進行X-Y-Z的,準確方便;
Ø 采用雙激光對焦系統(tǒng),準確定位測量位置;
Ø 度高,穩(wěn)定性好,故障率低;
Ø 采用多層屏蔽保護,安全性可靠;
Ø WINDOWS XP 中文應(yīng)用軟件,特的分析方法,完備強大的功能,操作簡單,使用方便, 分析結(jié)果存入標準ACCESS數(shù)據(jù)庫;
2、儀器的技術(shù)特性
2.1 X-Y-Z樣品平臺裝置
X熒光測厚儀的X-Y-Z樣品平臺裝置具有可容納各種形態(tài)被測樣品的樣品室。
樣品種類:各種形狀的鍍層樣品,及電鍍液體樣品。
平臺:X-Y-Z采用電動方式,實用方便。

設(shè)計亮點
上照式設(shè)計,可適應(yīng)更多異型微小樣品的測試。相較傳統(tǒng)光路,信號采集效率提升以上??勺兘垢呔珨z像頭,搭配距離補正系統(tǒng),滿足微小產(chǎn)品,臺階,深槽,沉孔樣品的測試需求。可編程自動位移平臺,微小密集型可多點測試,大大提高測樣效率。自帶數(shù)據(jù)校對系統(tǒng)。

2016年7月28日,“2016天瑞儀器合作伙伴峰會” 在昆山國際會展酒店順利召開。此次峰會為期兩天,天瑞儀器董事長劉召貴博士、副總經(jīng)理黎橋先生、以及來自全國各地的天瑞儀器合作伙伴參加了此次峰會。此次峰會以“合作共贏 共成長”為主題,旨在通過此次峰會加深天瑞儀器與合作伙伴的合作關(guān)系,增進了解、促進交流,共同發(fā)展。8日上午9點,在天瑞儀器副總經(jīng)理黎橋的熱情開場下,本次合作伙伴峰會正式拉開了帷幕。隨后,天瑞儀器董事長劉召貴博士致辭,劉博士首先對出席此次峰會的合作伙伴代表表示熱烈歡迎, 對全國各地合作伙伴長期以來對公司的大力支持和辛勤努力表示衷心的感謝。希望通過此次峰會能夠讓更多合作伙伴全面深入的了解天瑞儀器,增進互信,與天瑞儀器一起實現(xiàn)合作共贏。劉博士以其幽默風趣的語言和充滿的致辭贏得臺下陣陣掌聲此次峰會還特邀了天瑞儀器的多年合作伙伴,武漢天虹環(huán)保產(chǎn)業(yè)股份有限公司陸錦潤副總經(jīng)理及東莞市四通環(huán)境科技有限公司袁建洋總經(jīng)理作為合作伙伴代表,在峰會上發(fā)表講話。
武漢天虹環(huán)保產(chǎn)業(yè)股份有限公司陸總在發(fā)言中表示:國產(chǎn)儀器經(jīng)過這些年的迅猛發(fā)展,在很多產(chǎn)品的技術(shù)上都不遜于進口儀器,國人的“外國的月亮比較圓”的思想需要改一改。天虹環(huán)保與天瑞儀器保持了多年的合作友誼,天瑞儀器在業(yè)內(nèi)也良好的口碑和極高的品質(zhì)保證。東莞市四通環(huán)境科技有限公司袁建洋總經(jīng)理也在發(fā)言中表達了對天瑞儀器的肯定和共創(chuàng)未來的美好信心。
天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光膜厚測量技術(shù),研發(fā)的一款全新上照式X射線熒光分析儀,該款儀器配置嵌入集成式多準直孔、濾光片自動切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現(xiàn)測試部位的細節(jié),也能呈現(xiàn)出高清廣角視野;自動化的X/Y/Z軸的三維移動,實現(xiàn)對平面、凹凸、拐角、弧面等形態(tài)的樣品進行快速對焦分析。能地滿足半導體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求。
http://m.smcgdsz.com