分析范圍0~50微米
分析誤差5%
分析時間30秒
重復性0.1%
電源電壓220V
EDXThick800是一款全新上照式多功能自動微區(qū)X熒光膜厚測試儀,既滿足原有微小和復雜形態(tài)樣品的膜厚檢測功能,又可滿足有害元素檢測及輕元素成分分析;搭載自動化的X/Y/Z軸的三維系統(tǒng)、雙激光定位和保護系統(tǒng),可多點位編程測試,被廣泛應用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量。
X熒光鍍層測厚儀配置
01 立的X/Y/Z軸控制系統(tǒng)
02 微焦斑X光管
03 可變高壓電源
04 防撞板外加防撞激光保護檢測器對儀器進行雙重安全保護
05 Fast-SDD探測器
06 雙激光定位裝置
07 標配可自動切換的準直孔和濾光片

臺式x射線測厚儀可測量:單一鍍層:Zn,Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金層:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
合金層:例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
雙鍍層,其中一個鍍層為合金層:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
應用領(lǐng)域:黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測;金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行、首飾銷售和檢測機構(gòu);電鍍行業(yè)。
快速、的分析:
大面積正比計數(shù)探測器和50瓦微聚焦X射線光管(X射線光束強度大、斑點小,樣品激發(fā)佳)相結(jié)合,提供靈敏度
簡單的元素區(qū)分:
通過次級射線濾波器分離元素的重疊光譜
性能優(yōu)化,可分析的元素范圍大:
預置800多種容易選擇的應用參數(shù)/方法
的長期穩(wěn)定性:
自動熱補償功能測量儀器溫度變化并做修正,確保穩(wěn)定的測試結(jié)果
例行進行簡單快速的波譜校準,可自動檢查儀器性能(例如靈敏性)并進行必要的修正
堅固耐用的設計
可在實驗室或生產(chǎn)操作
堅固的工業(yè)設計

x射線測厚儀是一種檢測儀器,以PLC和工業(yè)計算機為核心,采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng),已達到要求的軋制厚度。
x射線測厚儀是一種,以和工業(yè)計算機為核心,采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標偏差值給軋機厚度,已達到要求的軋制厚度。今天我們主要來介紹一下x射線測厚儀的系統(tǒng)構(gòu)成方法,希望可以幫助用戶更好的應用產(chǎn)品。
用戶操作終端
用戶操作終端包括一個的計算機和高分辨率的彩色。可顯示整個系統(tǒng)的檢測、設定、偏差值;用戶通過軟件顯示頁面可直接控制和操作測厚儀。主操作頁顯示正常操作所需的各種數(shù)據(jù)。維護頁面顯示系統(tǒng)正常工作時各種參數(shù)高壓反饋、管電流、燈絲電流、射線源溫度等。一些與用戶質(zhì)量有關(guān)的重要數(shù)據(jù)如厚差曲線、厚度與長度關(guān)系曲線均可打印。技術(shù)員能很容易地通過操作終端的報表打印功能,打印出來以顯示可用信息。
冷卻系統(tǒng)
本系統(tǒng)配備有冷卻裝置,該裝置的關(guān)鍵部件,壓縮機組均采用進口原裝組件,具有可靠性高、噪音小、控溫精度高,經(jīng)久耐用等特點。通過C型架上進出油口進行冷卻。了關(guān)鍵部件的使用壽命。
X射線發(fā)射源及接收檢測頭
采用X射線管和。X射線管裝在一個抽真空后注滿油的全密封的油箱中保證絕緣和良好冷卻,高壓等級根據(jù)有所區(qū)別,加上具有的溫度自動保護與功能,提高了X射線管的穩(wěn)定性和使用壽命。模塊化設計、免維護設計方案及規(guī)范的制造保證了設備系統(tǒng)高可靠性。
檢測頭采用電離室和電子前置放大器組成高性能電離室檢測頭,離子室設計具有大空間,高抗干擾性、高靈敏度等特點。系統(tǒng)備有風冷、油冷恒溫冷卻單元,系統(tǒng)的使用壽命。
主控制柜
主控制柜是一個立式控制臺,是個系統(tǒng)的心臟。根據(jù)制系統(tǒng)配置不同,P型采用S7-400PLC作為控制計算中心;G型采用為控制計算中心??刂乒褙撠煵杉吞幚韽那爸梅糯笃鱾鱽淼?,負責測厚儀數(shù)據(jù)處理和與軋機AGC系統(tǒng)的接口輸出,為軋機AGC系統(tǒng)提供測厚數(shù)據(jù)及控制??刂乒襁€提供整個系統(tǒng)穩(wěn)定的和現(xiàn)場顯示器的顯示數(shù)據(jù)。

產(chǎn)品應用領(lǐng)域
測量超微小部件和結(jié)構(gòu),如:印制線路板、連接器或引線框架等;
分析超薄鍍層,如:厚度薄至2nm的Au鍍層和≤30nm的Pd鍍層;
測量電子和半導體行業(yè)中的功能性鍍層;
分析復雜的多鍍層系統(tǒng);
全自動測量,如:用于質(zhì)量控制領(lǐng)域;
符合ENIG/ENEPIG要求,符合DINISO3497,ASTMB568,IPC4552和IPC4556標準。
江蘇天瑞儀器股份有限公司被授予 “火炬計劃”,“江蘇省”,“江蘇省軟件企業(yè)”,“江蘇省科技創(chuàng)新示范企業(yè)”,“江蘇省規(guī)劃布局內(nèi)軟件企業(yè)”,“江蘇省光譜分析儀器工程技術(shù)研究中心”等榮譽稱號。X熒光光譜儀系列產(chǎn)品被認定為“新產(chǎn)品”和“江蘇省高新技術(shù)產(chǎn)品”。產(chǎn)品品種,為環(huán)境保護與安全、工業(yè)測試與分析及其它領(lǐng)域提供解決方案。
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