X熒光鍍層測(cè)厚儀硬件配置
高功率高壓?jiǎn)卧钆湮⒔拱叩腦光管,大的保證了信號(hào)輸出的效率與穩(wěn)定性。
EDX能的將不同的元素準(zhǔn)確解析,針對(duì)多鍍層與復(fù)雜合金鍍層的測(cè)量,有著不可比擬的優(yōu)勢(shì)。
在準(zhǔn)直器的選擇上,EDX金屬鍍層測(cè)厚儀也有著很大的優(yōu)勢(shì),它可以搭配的準(zhǔn)直器更小:0.1*0.3mm,中0.15mm;中0.2mm;中0.3mm;中0.5mm等等。用超小的準(zhǔn)直器得到的超小光斑,讓更小樣品的測(cè)量也變得游刃有余。
2016年10月，工業(yè)和信息化部發(fā)布了三項(xiàng)機(jī)械行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，分別為JB/T 12962.1-2016《能量色散X射線熒光光譜儀 第1部分：通用技術(shù)》、JB/T 12962.2-2016《能量色散X射線熒光光譜儀 第2部分：元素分析儀》和JB/T 12962.3-2016《能量色散X射線熒光光譜儀 第3部分：鍍層厚度分析儀》（以下簡(jiǎn)稱“三項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)”）。三項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)將于2017年4月1日正式實(shí)施。這三項(xiàng)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)均由天瑞儀器起草撰寫(xiě)。
天瑞儀器作為在國(guó)內(nèi)的X熒光光譜儀生產(chǎn)廠商，X熒光光譜儀產(chǎn)品齊全、種類繁多，包括能量色散X射線熒光光譜儀、波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀等，基本覆蓋了X熒光光譜儀的所有產(chǎn)品。其在業(yè)內(nèi)的度獲得了國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理會(huì)的認(rèn)可。2010年，全國(guó)工業(yè)過(guò)程測(cè)量和控制標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)會(huì)分析儀器分技術(shù)會(huì)任命天瑞儀器為三項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)的主編單位。本次起草編撰歷時(shí)4年。經(jīng)過(guò)多次的驗(yàn)證、討論及意見(jiàn)征求， 2014年1月，天瑞儀器依據(jù)參編單位意見(jiàn)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)工作組討論稿再次進(jìn)行修改并形成了標(biāo)準(zhǔn)送審稿。2016年10月，工業(yè)和信息化部批準(zhǔn)發(fā)布了該標(biāo)準(zhǔn)，并定于2017年4月1日實(shí)施。
二十世紀(jì)七十年代末，我國(guó)引進(jìn)能量色散X射線熒光光譜儀投入使用，到90年代我國(guó)已具備自主生產(chǎn)能量色散X射線熒光光譜儀的能力。經(jīng)歷了近30年的發(fā)展，到二十一世紀(jì)初我國(guó)能量色散X射線熒光光譜儀生產(chǎn)技術(shù)已日臻成熟。目前，我國(guó)已有多家研制、生產(chǎn)、組裝能量色散X射線熒光光譜儀的廠商，其產(chǎn)品主要性能指標(biāo)基本接近國(guó)際水平。但是如何對(duì)能量色散X射線熒光光譜儀進(jìn)行有效的質(zhì)量評(píng)定，確保能量色散X射線熒光光譜儀的品質(zhì)，目前國(guó)內(nèi)還沒(méi)有統(tǒng)一的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，相關(guān)企業(yè)基本按照自定的標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)，難免造成儀器性能不穩(wěn)定、產(chǎn)品質(zhì)量參差不齊、使用者對(duì)儀器性能不了解、儀器購(gòu)銷貿(mào)易糾紛不斷等問(wèn)題，嚴(yán)重影響了行業(yè)的健康發(fā)展。
三項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)施將打破能量色散X射線熒光光譜儀行業(yè)的亂象，將規(guī)范本行業(yè)對(duì)于產(chǎn)品的技術(shù)要求及其測(cè)試方法，促進(jìn)產(chǎn)業(yè)的進(jìn)步和發(fā)展;將為產(chǎn)品的合同訂立和產(chǎn)品交易提供技術(shù)支持，確保供貨方和使用方的和利益;將使相關(guān)學(xué)術(shù)交流中，實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)和測(cè)量結(jié)果的表述更加準(zhǔn)確、可靠，更具參考性;將為儀器的生產(chǎn)及制造過(guò)程中提供可做為驗(yàn)收依據(jù)的參考數(shù)據(jù)。

天瑞儀器在X射線熒光光譜儀行業(yè)屢創(chuàng)輝煌，譬如，生產(chǎn)的食品重金屬快速檢測(cè)儀EDX 3200S PLUS X，采用了能量色散X射線熒光光譜技術(shù)實(shí)現(xiàn)食品中微量重金屬有害元素的快速檢測(cè)，操作簡(jiǎn)單，自動(dòng)化程度高，可同時(shí)檢測(cè)24個(gè)樣本；在多年同時(shí)式波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀的研發(fā)和產(chǎn)品化基礎(chǔ)上，在國(guó)家重大科學(xué)儀器設(shè)備開(kāi)發(fā)專項(xiàng)資金支持下，融合的科技創(chuàng)新和發(fā)明，推出了國(guó)內(nèi)臺(tái)商業(yè)化順序式波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀——WDX 4000，為土壤重金屬檢測(cè)提供新支持；成功研發(fā)EXPLORER手持式能量色散X射線熒光光譜儀，促進(jìn)了儀器的小型化與便攜化等。
今后，天瑞儀器將繼續(xù)以“行業(yè)”為目標(biāo)，不斷提升技術(shù)水平，使國(guó)產(chǎn)儀器媲美國(guó)外，走向國(guó)際。同時(shí)，天瑞儀器著眼于日益嚴(yán)峻的環(huán)保形勢(shì)，積極調(diào)整產(chǎn)品結(jié)構(gòu)，致力于環(huán)保解決方案的提供，守護(hù)碧水藍(lán)天。與時(shí)俱進(jìn)開(kāi)拓創(chuàng)新，用科學(xué)技術(shù)服務(wù)于國(guó)家，服務(wù)于，是每

X熒光鍍層測(cè)厚儀配置
01 立的X/Y/Z軸控制系統(tǒng)
02 微焦斑X光管 
03 可變高壓電源
04 防撞板外加防撞激光保護(hù)檢測(cè)器對(duì)儀器進(jìn)行雙重安全保護(hù)
05 Fast-SDD探測(cè)器
06 雙激光定位裝置
07 標(biāo)配可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直孔和濾光片

2016年7月28日，“2016天瑞儀器合作伙伴峰會(huì)” 在昆山國(guó)際會(huì)展酒店順利召開(kāi)。此次峰會(huì)為期兩天，天瑞儀器董事長(zhǎng)劉召貴博士、副總經(jīng)理黎橋先生、以及來(lái)自全國(guó)各地的天瑞儀器合作伙伴參加了此次峰會(huì)。此次峰會(huì)以“合作共贏 共成長(zhǎng)”為主題，旨在通過(guò)此次峰會(huì)加深天瑞儀器與合作伙伴的合作關(guān)系，增進(jìn)了解、促進(jìn)交流，共同發(fā)展。8日上午9點(diǎn)，在天瑞儀器副總經(jīng)理黎橋的熱情開(kāi)場(chǎng)下，本次合作伙伴峰會(huì)正式拉開(kāi)了帷幕。隨后，天瑞儀器董事長(zhǎng)劉召貴博士致辭，劉博士首先對(duì)出席此次峰會(huì)的合作伙伴代表表示熱烈歡迎， 對(duì)全國(guó)各地合作伙伴長(zhǎng)期以來(lái)對(duì)公司的大力支持和辛勤努力表示衷心的感謝。希望通過(guò)此次峰會(huì)能夠讓更多合作伙伴全面深入的了解天瑞儀器，增進(jìn)互信，與天瑞儀器一起實(shí)現(xiàn)合作共贏。劉博士以其幽默風(fēng)趣的語(yǔ)言和充滿的致辭贏得臺(tái)下陣陣掌聲此次峰會(huì)還特邀了天瑞儀器的多年合作伙伴，武漢天虹環(huán)保產(chǎn)業(yè)股份有限公司陸錦潤(rùn)副總經(jīng)理及東莞市四通環(huán)境科技有限公司袁建洋總經(jīng)理作為合作伙伴代表，在峰會(huì)上發(fā)表講話。
武漢天虹環(huán)保產(chǎn)業(yè)股份有限公司陸總在發(fā)言中表示：國(guó)產(chǎn)儀器經(jīng)過(guò)這些年的迅猛發(fā)展，在很多產(chǎn)品的技術(shù)上都不遜于進(jìn)口儀器，國(guó)人的“外國(guó)的月亮比較圓”的思想需要改一改。天虹環(huán)保與天瑞儀器保持了多年的合作友誼，天瑞儀器在業(yè)內(nèi)也良好的口碑和極高的品質(zhì)保證。東莞市四通環(huán)境科技有限公司袁建洋總經(jīng)理也在發(fā)言中表達(dá)了對(duì)天瑞儀器的肯定和共創(chuàng)未來(lái)的美好信心。
天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光膜厚測(cè)量技術(shù),研發(fā)的一款全新上照式X射線熒光分析儀,該款儀器配置嵌入集成式多準(zhǔn)直孔、濾光片自動(dòng)切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現(xiàn)測(cè)試部位的細(xì)節(jié),也能呈現(xiàn)出高清廣角視野;自動(dòng)化的X/Y/Z軸的三維移動(dòng),實(shí)現(xiàn)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦分析。能地滿足半導(dǎo)體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測(cè)試需求。
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